【招标公告】高性能存储器、处理器等复杂器件测试程序开发_五院宇航物资保障事业部
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基本信息
| 地区 | 北京 北京市 | 采购单位 | |
| 招标代理机构 | 项目名称 | 高性能存储器、处理器等复杂器件测试程序开发_五院宇航物资保障事业部 | |
| 采购联系人 | *** | 采购电话 | *** |
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询价公告
询价产品明细
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| 询价标题 | 高性能存储器、处理器等复杂器件测试程序开发 | 场次号 | XJ024070700171 |
| 询价开始时间 | 2024-07-08 09:00 | 询价结束时间 | 2024-07-15 09:10 |
| 参与方式 | 非定向询价 | 出价方式 | 一次性出价 |
| 发布单位 | 五院宇航物资保障事业部 | 最终用户 | 五院宇航物资保障事业部 |
| 联系人 | 田伟冬 | 联系方式 | 010-68113471 |
| 付款方式 | 验收合格付款 | 交货期 | 自合同签订后150天内交货至指定 地点 |
| 签章要求 | 报价单不需电子签章 | 保证金要求 | 无需缴纳保证金 |
| 报价要求 | 报价包含运费 需要对全部产品报价 供应商可设置最小 起订量 | 发票要求 | 增值税专票 |
| 比选方式 | 最低价成交 | 成交价格（成交结果公示）： | 显示 |
| 一级类目 | 服务 | 二级类目 | 软件服务 |
| 三级类目 | 其他软件服务 | ||
| 备注 | |||
| 产品名 称 | 产品 标准 | 型号 | 型号 可替 代 | 规格 | 采购数 量 | 计量 单位 | 最少供 应量 | 是否 国产 | 质量 等级 | 封装 形式 | 产品 批次 | 备注 | 到货 日期 | 运输 方式 | 到站 地点 | 制造 商 |
| 产品名 称 | 产品 标准 | 型号 | 型号 可替 代 | 规格 | 采购数 量 | 计量 单位 | 最少供 应量 | 是否 国产 | 质量 等级 | 封装 形式 | 产品 批次 | 备注 | 到货 日期 | 运输 方式 | 到站 地点 | 制造 商 |
| 处理器 测试程 序开发 | / | PIC18F458-IPT | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| 处理器 测试程 序开发 | / | MSP430F2012IPW | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| FLASH 测试程 序开发 | / | S29GL01GT11FHIV20 | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| FLASH 测试程 序开发 | / | S29JL064J70TFI000 | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| 总线控 制器 测试程 序开发 | / | PCA9538APW | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| e-MMC 测试程 序开发 | / | MTFC32GAKAEDQ-AIT | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| SRAM存 储器 测试程 序开发 | / | IS46TR16512BL-107MBLA2 | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 |
| 产品名 称 | 产品 标准 | 型号 | 型号 可替 代 | 规格 | 采购数 量 | 计量 单位 | 最少供 应量 | 是否 国产 | 质量 等级 | 封装 形式 | 产品 批次 | 备注 | 到货 日期 | 运输 方式 | 到站 地点 | 制造 商 |
| SRAM存 储器 测试程 序开发 | / | IDT7132SA35CB | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| SRAM存 储器 测试程 序开发 | / | IS64LV51216-12TLA3 | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| SRAM存 储器 测试程 序开发 | / | IS42S32160F-7BLI | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| SRAM存 储器 测试程 序开发 | / | IS61WV51216EDBLL-10BLI | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| FLASH 测试程 序开发 | / | AM29LV040B-70JI | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| FLASH 测试程 序开发 | / | MT29F32G08ABAAAWP | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| FLASH 测试程 序开发 | / | S29AL016J70BFI010 | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 |
| 产品名 称 | 产品 标准 | 型号 | 型号 可替 代 | 规格 | 采购数 量 | 计量 单位 | 最少供 应量 | 是否 国产 | 质量 等级 | 封装 形式 | 产品 批次 | 备注 | 到货 日期 | 运输 方式 | 到站 地点 | 制造 商 |
| EEPROM 测试程 序开发 | / | HN58C1001T-15 | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| EEPROM 测试程 序开发 | / | AM27C128-90DI | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| FLASH 测试程 序开发 | / | MBM29LV800TA-7PFTN | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| SDRAM | / | IS42S16160C-7TLI | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| EEPROM 测试程 序开发 | / | CAT25256VI | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 | ||||||||
| EEPROM 测试程 序开发 | / | AT25128AN-10SU-2.7 | 否 | / | 1(次) | 次 | 1(次) | 是 |
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